创锐光谱邀您相约 ICSCRM 2026，以光学无损检测技术助力全球半导体材料研发与量产质控
第23届国际碳化硅及相关材料会议（ICSCRM 2026）将于9月28日至10月2日在日本横滨举行。作为宽禁带半导体材料领域的重要国际学术会议，ICSCRM汇聚全球科研机构、企业代表及行业专家，共同交流材料、器件、制造工艺及检测技术的最新进展。
届时，创锐光谱将携面向SiC、InP、Ga₂O₃、GaN等半导体材料及AR光学级晶圆材料的多项高精度检测设备亮相大会，展示覆盖材料研发、质量控制及产业化应用的检测解决方案，并与全球客户及合作伙伴围绕半导体材料检测技术的发展与应用展开深入交流。
展会信息
时间：9月28日-10月2日
地点：日本横滨
展位：E-6
报告信息
时间：9月28日 19:02-19:08
场次：Oral B
地点：3楼G303会场
展出设备
本次展出的系列设备覆盖SiC、InP、Ga₂O₃、GaN等半导体材料及AR光学级晶圆材料检测，可实现衬底、外延缺陷检测、少子寿命、吸收率、折射率、雾度等关键参数的高精度测量，为材料研发、工艺优化及量产质量控制提供可靠的数据支撑。
核心展出设备
结语
此次亮相 ICSCRM 2026，创锐光谱期待与来自全球的科研机构、产业伙伴及客户相聚横滨，围绕宽禁带半导体材料研发与量产质控中的检测需求，分享光学无损检测的技术进展与应用经验，在不同研究视角与产业实践的交流中激发更多思考，共同探索先进检测技术的更多应用与合作机会。
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