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青禾晶元H Cut技术:破解晶圆复用难题,大幅降低成本
三代半快讯 · 2026-04-29
一片高品质的SiC或LN/LT(铌酸锂/钽酸锂,光子芯片的核心材料)晶圆,价格昂贵,却是芯片性能的核心。
但在传统制造中,这些昂贵的材料要么被磨成废料(LN/LT减薄法浪费超90%),要么使用一次就被丢弃(SiC低良率导致大量浪费)。
H Cut技术正在改变这件事:通过离子注入与键合剥离,让昂贵晶圆“一次购入、多次复用”。作为行业通用技术路线,青禾晶元的独特性在于两件事:
第一,在SiC上,青禾晶元将衬底重复使用次数推至20-50次,使复合衬底成本降低约40%,并在降低成本的同时实现了器件性能的提升。
第二,在LN/LT(铌酸锂/钽酸锂)上,青禾晶元独创FLOW工艺,攻克了热应力导致晶圆碎片这一行业共性难题,让H Cut首次能够在这类材料上稳定落地。
行业痛点:三个问题,一个根源
青禾晶元H Cut技术:破解晶圆复用难题,大幅降低成本
根源只有一个: 昂贵的高品质单晶被“一次性使用”了。H Cut的思路是让母体重复使用,从材料端打破困局。
青禾晶元的两大突破
突破一:SiC衬底复用,降低成本同时提升性能,成本直降40%
青禾晶元将H Cut在SiC上的应用推向了真正的产业化高度。通过将高质量SiC薄膜转移到低成本多晶衬底上,在保证器件性能的前提下大幅降低材料成本。
青禾晶元H Cut技术:破解晶圆复用难题,大幅降低成本
青禾晶元H Cut技术:破解晶圆复用难题,大幅降低成本
青禾晶元H Cut技术:破解晶圆复用难题,大幅降低成本
基于上述工艺指标,H Cut衬底在器件层面实现了以下性能突破:
➤ 更耐用:在大电流极限工况下,标准衬底器件出现明显性能衰减,而H Cut衬底器件压降无漂移,抗双极退化能力显著增强。
➤ 更高效:高温下反向恢复电荷降低约40%,开关损耗更低、系统效率更高,且不牺牲体二极管正向压降。
效果: 通过多晶衬底替代+材料复用,在降低成本的同时实现器件耐用性和效率的双重提升。
突破二:独创FLOW工艺,攻克LN/LT“一用就碎”难题
当标准H Cut用于LN/LT时,热膨胀系数差异导致退火时晶圆碎片——供体晶圆还没来及复用,就已经碎了。这是行业长期无法突破的瓶颈。
LN/LT与硅/石英衬底的热膨胀系数差异较大,需要可控的热应力释放过程。因此,青禾晶元依托业内领先的特殊键合技术,精准匹配热形变过程,避免瞬间热冲击导致的碎片。
FLOW是青禾晶元的独创技术,针对LN/LT材料特性对H Cut进行了系统级升级:
➤ 应力缓释:多步退火 + 界面工程,动态匹配热形变 → 零碎片。
➤ 闭环再生:转移薄膜的同时完整保留母体结构 → 可反复使用。
青禾晶元H Cut技术:破解晶圆复用难题,大幅降低成本
青禾晶元H Cut技术:破解晶圆复用难题,大幅降低成本
青禾晶元H Cut技术:破解晶圆复用难题,大幅降低成本
效果: LN/LT从“一次性消耗品”转变为可循环使用的“生产资产”,为LNOI/LTOI的大规模应用扫清了工艺障碍。
为行业带来什么
SiC应用
➤降本:重复使用20-50次,复合衬底成本降低约40%。考虑到衬底占器件成本的一半以上,对整体BOM成本影响显著。
➤增效:通过多晶衬底替代,降低对昂贵单晶衬底的依赖,提升材料利用率。电阻率低于1.5mΩ·cm的低阻多晶材料,较传统单晶SiC电阻率降低95%,并实现了零缺陷水平。该材料作为支撑衬底,与单晶SiC薄膜共同构成复合结构,可显著降低器件导通电阻,提升整体电学性能。
➤领先性:绕过“大尺寸低缺陷单晶生长”瓶颈,供应稳定性领先竞争对手半年到一年。
➤可靠性:供体晶圆再生后晶体结构完整,缺陷低,性能无衰减。
LN/LT应用
➤ 降本:供体晶圆重复使用5次,单晶采购成本摊薄至原来的1/5以下。
➤增效:昂贵光电单晶变为可复用资产,降低对上游晶棒的依赖和库存风险。
➤领先性:为LNOI/LTOI大规模应用提供工艺基础,填补了行业空白。
➤可靠性:FLOW工艺确保剥离过程零碎片,再生母体光电性能无明显衰减。
工艺落地的底座:键合设备
H Cut和FLOW工艺的核心在于“键合”这一步。青禾晶元自主研发了两种键合工艺,分别适配不同材料体系的需求。
常温键合(应用于SiC)
SiC复合衬底的制备对界面质量要求极高。青禾晶元的常温键合技术在室温下直接实现异质界面的牢固结合,无需高温退火,避免高温引入的缺陷,保障薄膜质量与后续外延生长,为SiC的20-50次高频复用提供了前提条件。
青禾晶元H Cut技术:破解晶圆复用难题,大幅降低成本
亲水键合(应用于LN/LT)
如前所述,LN/LT的热膨胀特性决定了它需要温和的键合工艺。青禾晶元的亲水键合工艺,通过等离子体处理使晶圆表面富集-OH基团,在室温下完成预键合,再经梯度退火达到高强度键合,为FLOW的应力缓释和零碎片剥离提供了稳定的工艺基础。
青禾晶元H Cut技术:破解晶圆复用难题,大幅降低成本
青禾晶元以自研键合设备为底座,以H Cut工艺为核心,以FLOW工艺为差异化突破,在SiC和LN/LT两个领域实现了“降本不降质”的材料复用方案。
对于行业客户,这意味着:更低的衬底成本、更稳定的供应、更快的量产节奏。
在SiC行业价格战击穿成本线的今天,青禾晶元提供了一条新思路——靠材料复用重构成本结构。在LN/LT领域,FLOW工艺首次让昂贵单晶从“消耗品”变成可循环使用的“生产资产”,为光子芯片的大规模普及铺平了道路。
青禾晶元H Cut技术:破解晶圆复用难题,大幅降低成本
关于青禾晶元
青禾晶元半导体科技(集团)有限责任公司是中国半导体键合集成技术的高新技术企业。公司核心业务涵盖高端键合装备研发制造与精密键合工艺代工,技术广泛应用于先进封装、半导体器件制造、晶圆级异质材料集成及MEMS传感器等前沿领域,通过“装备制造+工艺服务”双轮驱动,构建全产业链解决方案,已成功开发四大自主知识产权产品矩阵:超高真空常温键合系统、混合键合设备、热压键合装备及配套工艺服务。通过持续技术创新,公司致力于为全球半导体产业链提供高精度、工艺稳定、高性价比的键合装备与方案,助力战略新兴产业崛起。
青禾晶元H Cut技术:破解晶圆复用难题,大幅降低成本
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