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关键材料突破!SiC单晶成本可降15%
行家说三代半 · 2022-11-01
关键材料突破!SiC单晶成本可降15%
目前,SiC企业正在通过更大的晶圆直径和晶体厚度等方式,来降低衬底成本。截至目前,全球共有14家企业研发出8英寸SiC衬底,而国内已有企业将SiC单晶厚度做到了40-50mm。
然而,在SiC晶体“长大、长厚”过程中,晶体良率却深深困扰着企业,尤其是晶体边缘的“综合缺陷”问题异常突显。
最近,恒普科技实现了一项技术突破,有助于降低SiC晶体边缘缺陷,能够让SiC晶体的有效面积超95%。
与此同时,这项技术还能够降低“微管”“包裹物”等缺陷,而且能够大幅降低石墨耗材成本,SiC晶体成本有望下降15%。
边缘缺陷突出
阻碍SiC“长大、长厚”
目前,在SiC单晶制备中,“微管”“包裹物”等宏观缺陷已经逐渐被得到较好的控制,但随着SiC晶体直径、厚度的增加,晶体边缘的“综合缺陷”会以直径平方及厚度成倍数增加。
这是因为SiC晶体在生长时,晶体轴向中心与边缘的生长界面的“环境”不同,从而导致晶体边缘的晶体应力徒增,而且由于石墨档环“碳”的影响,致使晶体边缘容易产生“综合缺陷”。为此,如何解决SiC单晶的边缘缺陷或增加中心有效面积(95%以上),是SiC晶体生长的重要技术课题。
SiC晶体边缘容易产生“综合缺陷” 来源:韩国东欧大学
突破性碳化钽技术
实现SiC晶体超95%有效面积
最近,恒普科技告诉“行家说三代半”,采用碳化钽TaC涂层, 能够解决晶体边缘缺陷问题,提高晶体生长质量,是“长快、长厚、长大”的核心技术方向之一。
业界研究也已经表明,碳化钽涂层石墨坩埚可以实现更为均匀的加热,从而为SiC单晶生长提供了出色的工艺控制,因此能够大幅降低SiC晶体边缘形成多晶的概率。
TAC涂层坩埚可改善SiC单晶边缘缺陷 来源:韩国东欧大学
为了推动行业技术发展,解决关键材料“进口”依赖,恒普科技已经突破性解决了碳化钽涂层技术(CVD),并且技术达到了国际先进水平。
关键材料突破!SiC单晶成本可降15%
恒普科技的碳化钽涂层坩埚 来源:恒普科技
恒普科技认为,实现碳化钽TaC涂层的制备并不困难,用烧结、CVD等方法都容易实现。
烧结法:采用碳化钽粉或前驱体,添加活化成分(一般为金属)和粘接剂(一般为长链高分子),涂覆到石墨基材表面高温烧结。
CVD法:采用TaCl5+H2+CH4,在900-1500℃,沉积到石墨基体表面。
但碳化钽沉积的晶向,膜厚均匀、涂层与石墨基体的应力释放、表面裂纹等基础参数,却极具挑战。特别是能在SiC晶体生长环境下,有稳定的使用寿命是核心参数,是最难点。
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晶体缺陷大幅降低
晶体成本可降低15%
“行家说三代半”调查发现,碳化钽石墨涂层还有2大优势:
降低SiC缺陷
在SiC单晶缺陷的控方面,通常是有3种重要的方式,除了优化生长参数和高质量的源材料(如SiC源粉)外,改用碳化钽涂层石墨坩埚也可以实现良好的晶体质量。
常规石墨坩埚(a)与TAC涂层坩埚(b)示意图
根据韩国东欧大学研究,SiC晶体生长的主要杂质是氮,而碳化钽涂层石墨坩埚能够有效地限制了SiC晶体的氮掺入,从而可以降低微管等缺陷的产生,提高晶体质量。
研究表明,在同样条件下,传统石墨坩埚和TAC涂层坩埚中生长的SiC晶圆中,载体浓度分别约为4.5×1017/cm和7.6×1015/cm。
关键材料突破!SiC单晶成本可降15%
常规石墨坩埚(a)与TAC涂层坩埚(b)生长SiC单晶缺陷对比 来源:韩国东欧大学
提升石墨坩埚寿命
目前,SiC晶体成本一直居高不下,其中石墨耗材成本占比高达30%左右。而降低石墨耗材成本的关键在于提升它的使用寿命。
据英国研究团队数据,碳化钽涂层能够将石墨部件的使用寿命延长30-50%。以此计算,仅更换碳化钽涂层石墨,就可以将SiC晶体成本降低9%-15%。
恒普科技 | 零实验室,致力于材料的基础研究和创新方向探索。
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