作为一个显示产品，Micro LED与传统的液晶背光光源的显示器在技术上有明显的不同，这就是，没有任何背光，显示器的每个像素都是独立的发光体。为了优化显示品质，和研发需求，除了标准测量项目之外，还必须进行一些特殊的测量项目。

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Micro LED近场光学特性

Micro LED 显示依赖于独立的显示像素，因此像素本身的品质，是提升显示品质的源头。

通过高精度的近场分布式光度计，测得 Micro LED 像素的四维光场分布，即 Ray file：

不仅可以全面评价像素光学特性，还可以将该近场文件导入仿真软件，进行深度分析和仿真优化。支持市场上几乎所有主流光学仿真软件，极大的提高研发效率。

使用测试到的 Ray 仿真计算的结果案例：

全球独家，用于 Micro LED 近场测试的 RiGO 801-uLED，2023年第一台正式交付 Osram

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更复杂的残影测试

如果部分像素比其他像素更频繁地使用，则可能发生暂时性残影或永久性的残影，出现重影现象。

尽管LCD 也有残影现象，也进行测试，但是由于 Micro LED 的颜色是由不同的发光材料实现的，因此，这种残影现象对不同的颜色，可能是不同的。

因此在进行残影测试评估时，需要尽可能考虑相关的影响因素。例如，你可能无法用同一个显示器来重现残影测量的结果。这些都带来了很大的挑战。